一、用萬(wàn)用表測(cè)量?jī)?nèi)存芯片的方法

在主板與內(nèi)存的數(shù)據(jù)引腳是64個(gè)，D0-D63，為了保護(hù)內(nèi)存的數(shù)據(jù)位腳，在D0-D63這64個(gè)數(shù)據(jù)位腳都加有一個(gè)阻值不大的電阻起限流作用。而測(cè)試儀主要的原理是用程序重復(fù)測(cè)試內(nèi)存芯片的每個(gè)數(shù)據(jù)位引腳，看有沒(méi)有擊穿或短路的數(shù)據(jù)位引腳，還有就是芯片的時(shí)鐘引腳、地址引腳。所以用萬(wàn)用表測(cè)試芯片時(shí)也可用測(cè)試儀的方法來(lái)測(cè)，只要紅筆對(duì)地，黑筆測(cè)量排陰阻的阻值，就是內(nèi)存芯片數(shù)據(jù)位的阻值來(lái)判斷是哪個(gè)芯片壞了，正常的話每個(gè)數(shù)據(jù)位阻值相同。但還是沒(méi)有測(cè)試儀那么直觀，用這種方法可測(cè)量DDR內(nèi)存芯片的好壞。

二、 用測(cè)試儀測(cè)量?jī)?nèi)存芯片方法

根據(jù)使用說(shuō)明書(shū)，測(cè)量的內(nèi)存在2A、2B這里，指單組和雙組的意思。但16位的芯片有8個(gè)，也相當(dāng)于是兩組，8位的芯片有16個(gè)也相當(dāng)于兩組。

2A為第二組，2B為第一組。

測(cè)量時(shí)會(huì)循環(huán)測(cè)試每一組中的每一個(gè)芯片的數(shù)據(jù)位腳。一般測(cè)了3次—5次沒(méi)壞就是好的。好的芯片為：PA 。壞的芯片就顯示出壞的數(shù)據(jù)位引腳。

1、 開(kāi)機(jī)跳不進(jìn)測(cè)試，一般有：芯片短路、PCB板短路。解決方法為把芯片拆下來(lái)?yè)Q到好的PCB板上試芯片好壞。

2、 內(nèi)存測(cè)試儀不測(cè)試 D芯片， D芯片可有可無(wú)

3、 金手指燒了的話也不能測(cè)試，必須把芯片拆下?lián)Q到好的PCB板上試芯片好