備件磁頭與固件區(qū)不兼容

現(xiàn)在以一塊三星3.5英寸盤SP1203N為例，初步判定為磁頭損壞。潔凈間更換磁頭后初步思路為用Data Extractor進行鏡像。
首先建立任務，選擇任務路徑，如圖3-6所示。
圖3-6選擇任務路徑
選擇源盤，目前該盤接到ATAO的通道，如圖3-7所示。
圖3-7選擇源盤
任務初始化參數(shù)選擇默認參數(shù),如圖3-8所示。
圖3-8 選擇任務初始化參數(shù)
任務選擇"Make data copy"，如圖3-9所示。
圖3-9 任務選擇
選擇目標位置，如圖3-10所示。
圖3-10 選擇目標盤
按默認參數(shù)進行復制，如圖3-11所示。
復制時發(fā)現(xiàn)速度相當緩慢，但數(shù)據(jù)全部正確，初步判定是由于三星硬盤采用自適應區(qū)域分配表，更換的磁頭組件與故障盤區(qū)分配表不相適宜。
嘗試采用分頭復制。執(zhí)行"servivce"->"Buidings heads map",如圖3-12所示。
圖3-11數(shù)據(jù)復制
執(zhí)行
圖3-12選擇“Building heads map”
用自適應區(qū)
所示。
圖3-13提示信息
分頭完成后，打開程序參數(shù)對話框，選擇“Heads map”，如圖3-14所示。
僅勾選0頭，如3-15所示。
圖3-14參數(shù)對話框
圖3-15勾選“Head 0”
再執(zhí)行復制，發(fā)現(xiàn)速度明顯加快。依次按0、l、2頭進行單獨復制，�；謴统晒�。

 SMART出錯實例

我們現(xiàn)在接到一塊三星3.5英寸盤SP1203N，無異響，但無法讀取內(nèi)容，暫無法判定故障，接到PC-3000上進行測試。具體處理過程如下：
進入PC-3000三星程序后，能自動發(fā)現(xiàn)所在家族PALO，如圖3-16所示。
圖3-16  “Utility start”窗口
對硬盤進行表面測試（菜單“Tests”一“Surface test”一“Logical test”），如圖3-17所示。
圖3-17選擇“Logical test”
發(fā)現(xiàn)檢測速度很慢，且所有測試過的扇區(qū)都是錯誤的，如圖3-18所示，遂中斷測試。
圖3-18扇區(qū)檢測全部錯誤
如圖3-19所示的對話框中單擊“No”按鈕（檢測到的錯誤都不加入缺陷表），顯然不可能有扇區(qū)都是壞的。
圖3-19邏輯測試結果不寫入缺陷表
打開PC-3000通用程序進行測試，如圖3-20所示。
圖3-20進入通用測試程序
如圖3-21所示顯示“Attrib 198 has value (1) lower than treshold (10)”。帶有閾值
threshold)的提示一般為SMART損壞的特征。所以可以判斷此盤故障為SMART損壞。
進入pc-300三星程序，清空SMART,如圖3-22所示。
如圖3-22 執(zhí)行清空SMART
硬盤修復成功。