兩例由CMOS引起的硬盤故障的分析與處理
1.CMOS抻電引起硬盤啟動(dòng)故障
故障現(xiàn)象
電腦開機(jī)后屏幕上出現(xiàn)提示“Device error”的提示。
故障分析與處理
這主要是由于CMOS抻電造成信息丟失引起的。右以按照下面的方法進(jìn)行處理:首先打開機(jī)箱,觀察電池是否松動(dòng)。如果是,將其固定再開機(jī);如果不是,則可能電池有故障,換塊好的電池,重新設(shè)置CMOS參數(shù),硬盤就可以正常啟動(dòng)了。
提示:若還不能正常啟動(dòng),應(yīng)該是由于數(shù)據(jù)線接反引起。
2.CMOS設(shè)置錯(cuò)誤引起硬盤故障
故障分析與處理
CMOS中的硬盤類型正確與否直接影響硬盤的正常使用,現(xiàn)在的電腦都不能支持“IDE Auto Detect”的功能,可自動(dòng)檢測(cè)硬盤的類型。當(dāng)硬盤類型錯(cuò)誤時(shí),就會(huì)出現(xiàn)無法啟動(dòng)系統(tǒng)或發(fā)生讀/寫錯(cuò)誤。比如CMOS中的硬盤類型小于實(shí)際的硬盤容量,則硬盤后面的扇區(qū)將無法讀/寫,如果是多爭區(qū)狀態(tài)則個(gè)別分區(qū)將丟失。
另外,由于日前的IDE都支持邏輯參數(shù)類型,硬盤可采用Normal\LBA\large等,如果三般的模式下安裝了數(shù)據(jù),而又豐CMOS中必為其他的模式,則會(huì)發(fā)生硬盤講習(xí)/寫錯(cuò)誤,因?yàn)槠溆成潢P(guān)系已經(jīng)改變,將無法讀取原來的正確硬盤位置。