WD黑盤SF比之白盤的SF遜色多了，做WD黑盤SF最好讓它全部的走完，最好自己修改流程，把出錯停止的流程改下，讓它能繼續(xù)的做完到最后，

我試驗的WD全盤壞道的，SF完成后，修復(fù)失敗
壞道少的基本都能修復(fù)成功，基本不用關(guān)段了

目前手里黑盤少，沒做太多的試驗。
還有，手動開啟黑盤SF就只改2個字節(jié)就行，修改流程改也簡單，就是停止SF麻煩點。
黑盤校準具體修改的地方:

1:2# offset=1d0 第四個字節(jié) 改成01     （校驗寫入）

2:28# 00ffset =10 第九個字節(jié) 改成01  （校驗寫入）

3：將自動校準流程進行調(diào)整(關(guān)系到校準的成功率)

黑盤開自動校準：

1：02號模塊是WD校準的開關(guān)模塊.

2: 28號模塊是WD校準的流程模塊.

原始并沒有開過Selfscan的WD黑盤，起始的流程是FFFF(也就是結(jié)束的)，修改28號模塊的目的是將第一步改成(Begin).


WD的每個校準步驟都是由一個校準模塊來實現(xiàn)的(是一一對應(yīng)的)。


與WD黑盤校準相關(guān)的模塊有(DC,B1,C4,EE,DA,DD,DB,D5,D4,D3,D2,EE,D6,D7,BB,B9,BA,)等

校準模塊的含義：

1：DC (校準結(jié)束)。

2：B1 (暫時無含義)。

3：C4  (伺服校準)。

4：EE  (校準LOG).

5: DA  (TS寫入測試)。

6：DD  (暫時無含義)。

7：DB  (磁道扇區(qū)讀取測試)。

8：D5  (Block測試)。

9：D4  (T表測試)。

10:D3  (PSN校準)。

11:D2  (P表測試)。

12:EE  (校準Log)。

13:D6  (RRO測試)。

14:D7  (磁盤表面掃描)。

15:BB  (暫無含義)。

16:BA  (暫時無含義)。